نویسنده این موضوع
آشکارساز الکترون های برگشتی
همانطور که در مطالب بالا اشاره شد در میکروسکوپ الکترونی روبشی، تصویر نمونههای مختلف با استفاده از پرتو الکترونی بهدست میآید. آشکارساز الکترونی برگشتی الکترونهایی که به صورت کشسان پراکنده شدهاند را تشخیص میدهد. این الکترونها انرژی بیشتری در مقایسه با الکترونهای ثانویه دارند. با توجه به ترکیب و توپوگرافی نمونه، تعداد و جهت الکترونهای برگشتی تغییر میکند. کنتراست تصویر ایجاد شده توسط این الکترونها به عوامل مختلفی مانند عدد اتمی نمونه، ولتاژ شتاب پرتو اولیه و زاویه نمونه نسبت به پرتو اولیه بستگی دارد. نمونههای ساخته شده از عناصری با عدد اتمی بزرگتر در مقایسه با نمونههای تشکیل شده از عناصری با عدد اتمی کوچکتر، الکترونهای برگشتی بیشتری را تولید میکنند.
در تصویر زیر آشکارساز الکترونی برگشتی حالت جامدی را مشاهده میکنید که از چهار ربع دایره تشکیل شده است. با استفاده از این آشکارساز میتوانیم تصاویری از توپوگرافی سطحی نمونه با کنتراستهای مختلف تهیه کنیم.
آشکارساز الکترونهای برگشتی در میکروسکوپ الکترونی روبشی
طیف سنجی پراکنده انرژی
الکترونهای برخوردی به سطح نمونه میتوانند سبب تابش پرتو ایکس توسط نمونه میشوند. انرژی و طول موج پرتو ایکس به ترکیب عنصری نمونه وابسته است. از این طریق میتوان عنصرهای تشکیلدهنده نمونه سنتز شده و تا حدودی درصد هر یک از آنها را داخل نمونه بهدست آورد. از آنجا که اختلاف انرژی بین ترازهای الکترونی داخلی و خارجی در هر عنصر منحصربهفرد است، با استفاده از پرتو ایکس بهدست آمده میتوان ترکیب عنصری نمونه را بهدست آورد. دادههای «طیفسنجی پراکنده انرژی» (Energy Dispersive Spectroscopy | EDS) را میتوان در نقطهای مشخص، در امتداد خط یا به صورت نقشهای روی سطح نمونه بهدست آورد.
توجه به این نکته مهم است که علاوه بر تهیه تصویر از سطح نمونه باید عناصر تشکیلدهنده آن را نیز با استفاده از EDS بهدست آوریم. در این صورت، اطلاعات بسیار جامعتر و کاملتری از نمونه سنتز شده خواهیم داشت.
طیفسنجی پراکندگی انرژی در میکروسکوپ الکترونی روبشی
همانطور که در مطالب بالا اشاره شد در میکروسکوپ الکترونی روبشی، تصویر نمونههای مختلف با استفاده از پرتو الکترونی بهدست میآید. آشکارساز الکترونی برگشتی الکترونهایی که به صورت کشسان پراکنده شدهاند را تشخیص میدهد. این الکترونها انرژی بیشتری در مقایسه با الکترونهای ثانویه دارند. با توجه به ترکیب و توپوگرافی نمونه، تعداد و جهت الکترونهای برگشتی تغییر میکند. کنتراست تصویر ایجاد شده توسط این الکترونها به عوامل مختلفی مانند عدد اتمی نمونه، ولتاژ شتاب پرتو اولیه و زاویه نمونه نسبت به پرتو اولیه بستگی دارد. نمونههای ساخته شده از عناصری با عدد اتمی بزرگتر در مقایسه با نمونههای تشکیل شده از عناصری با عدد اتمی کوچکتر، الکترونهای برگشتی بیشتری را تولید میکنند.
در تصویر زیر آشکارساز الکترونی برگشتی حالت جامدی را مشاهده میکنید که از چهار ربع دایره تشکیل شده است. با استفاده از این آشکارساز میتوانیم تصاویری از توپوگرافی سطحی نمونه با کنتراستهای مختلف تهیه کنیم.
آشکارساز الکترونهای برگشتی در میکروسکوپ الکترونی روبشی
طیف سنجی پراکنده انرژی
الکترونهای برخوردی به سطح نمونه میتوانند سبب تابش پرتو ایکس توسط نمونه میشوند. انرژی و طول موج پرتو ایکس به ترکیب عنصری نمونه وابسته است. از این طریق میتوان عنصرهای تشکیلدهنده نمونه سنتز شده و تا حدودی درصد هر یک از آنها را داخل نمونه بهدست آورد. از آنجا که اختلاف انرژی بین ترازهای الکترونی داخلی و خارجی در هر عنصر منحصربهفرد است، با استفاده از پرتو ایکس بهدست آمده میتوان ترکیب عنصری نمونه را بهدست آورد. دادههای «طیفسنجی پراکنده انرژی» (Energy Dispersive Spectroscopy | EDS) را میتوان در نقطهای مشخص، در امتداد خط یا به صورت نقشهای روی سطح نمونه بهدست آورد.
توجه به این نکته مهم است که علاوه بر تهیه تصویر از سطح نمونه باید عناصر تشکیلدهنده آن را نیز با استفاده از EDS بهدست آوریم. در این صورت، اطلاعات بسیار جامعتر و کاملتری از نمونه سنتز شده خواهیم داشت.
طیفسنجی پراکندگی انرژی در میکروسکوپ الکترونی روبشی
میکروسکوپ الکترونی روبشی چیست؟
رمان ۹۸ | دانلود رمان
نودهشتیا,بزرگترین مرجع تایپ رمان, دانلود رمان جدید,دانلود رمان عاشقانه, رمان خارجی, رمان ایرانی, دانلود رمان بدون سانسور,دانلود رمان اربابی,
roman98.com